Dr. Frank Holzer

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Helmholtz Zentrum für Umweltforschung GmbH - UFZ 
Department Technische Biogeochemie
Permoserstrasse 15
04318 Leipzig


Dr. Frank Holzer

Frank Holzer promovierte 2003 in den Ingenieurwissenschaften an der Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg. Er forschte von 2004 bis 2006 an der Florida State University in den USA zum Schadstoffabau in Abwässern mittels nichtthermischer Plasmen. Seit 2006 arbeitete er als wissenschaftlicher Mitarbeiter in verschiedenen Projekten am UFZ und der Hochschule für Wirtschaft, Kultur und Technik (HTWK) Leipzig mit den Schwerpunkten Radiowellentechnolgie und Plasmaanwendungen. Er ist Mitarbeiter in der Arbeitsgruppe Angewandte Umweltphysik.


seit 2019 Wissenschaftlicher Mitarbeiter im Department Technische Biogeochemie am UFZ und an der HTWK Leipzig, Fakultät Bauwesen und Mathematisch-Naturwissenschaftliches Zentrum
2009 - 2018 Wissenschaftlicher Mitarbeiter im Department für Technische Umweltchemie am UFZ
2007 - 2009 Wissenschaftlicher Mitarbeiter an der HTWK Leipzig, Fakultät Ingenieurwissenschaften
2005 - 2007 Wissenschaftlicher Mitarbeiter an, der Florida State University, Tallahassee Florida, USA, Dept. of Chemical and Biomedical Engineering
2003 - 2004 Wissenschaftlicher Mitarbeiter am Forschungs- und Transferzentrum Leipzig e.V. (FTZ) an der Hochschule für Technik, Wirtschaft und Kultur (HTWK) Leipzig
2003 Promotion zum Dr.-Ing. an der Martin-Luther-Universität Halle-Wittenberg zum Thema „Oxidation von organischen Verbindungen unter Nutzung von porösen und unporösen Feststoffen im nichtthermischen Plasma“
2003 Fachingenieur für Analytik und Spektroskopie
2001 - 2003 Aufbaustudium "Analytik und Spektroskopie" an der Universität Leipzig im Rahmen eines ESF-Qualifizierungsprogramms
1997 - 2000
Promotionsstipendium der Deutschen Bundesstiftung Umwelt, Doktorand am UFZ
1997 Diplom in Verfahrenstechnik, TU Dresden

Nichtthermische Plasmen

  • Gasphasenplasmen und Plasmen in und an wässrigen Medien
  • Plasmen zum Schadstoffabbau und zur Synthese von Verbindungen
  • Kombination von heterogener Katalyse und Gasphasenplasmen

Radiowellentechnologie

  • Simulation elektromagnetischer Felder und der entsprechenden Leistungseintragsdichten
  • Design und Konstruktion von Elektrodengeometrien zur dielektrischen Erwärmung von Feststoffen
  • Anwendung der Radiowellentechnologie an Feldstandorten

Physikalische und chemische Analysenmethoden

  • Gaschrommatographie in Kombination mit verschiedenen Detektoren (MS, FID und WLD)
  • FTIR Spektroskopie mittlels diffuser Reflexion (DRIFT) oder abschwächter Totalreflexion (ATR)
  • UV/VIS-Adsorptions- und Emissionsspektroskopie
  • ortsaufgelöste Temperaturmessung entlang von Quarzfasern anhand der rückgestreuten Rayleigh- bzw. Ramanspektren
  • Impedanzspektroskopie

Inhalt:

Weiterführende Recherchen können Sie in unserem Publikationsverzeichnis durchführen.

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Publikationen vor 2015


M. Schmidt, P.J. Janse van Rensburg, W.E. Meyer and F.D. Auret,
Observation of low-temperature annealing of a primary defect in gallium nitride,
Physica B 439 64 (2014)
DOI: 10.1016/j.physb.2013.11.008

M. Schmidt, H. de Meyer, P.J. Janse van Rensburg, W.E. Meyer and F.D. Auret,
Introduction and annealing of primary defects in proton-bombarded n-GaN,
Phys. Status Solidi B 251, 211 (2014)
DOI: 10.1002/pssb.201349191

W. Mtangi, M. Schmidt, F.D. Auret, W.E. Meyer, P.J. Janse van Rensburg, M. Diale, J.M. Nel, A.G.M. Das, F.C.C. Ling and A. Chawanda,
A study of the T2 defect and the emission properties of the E3 deep level in annealed melt grown ZnO single crystals,
J. Appl. Phys. 113, 124502 (2013)
DOI: 10.1063/1.4796139

M. Schmidt, H. v. Wenckstern, R. Pickenhain and M. Grundmann,
On the investigation of electronic defect states in ZnO thin films by space charge spectroscopy with optical excitation
Solid-State Electron. 75, 48 (2012)

DOI: 10.1016/j.sse.2012.04.043

M. Schmidt, M. Ellguth, R. Karsthof, H. v. Wenckstern, R. Pickenhain, M. Grundmann, G. Brauer, and F.C.C. Ling,
On the T2 trap in zinc oxide thin films,
Phys. Status Solidi B 249, 588 (2012)
DOI: 10.1002/pssb.201147271

M. Schmidt, K. Brachwitz, F. Schmidt, M. Ellguth, H. v. Wenckstern, R. Pickenhain, M. Grundmann, G. Brauer, and W. Skorupa,
Nickel-related defects in ZnO – A deep-level transient spectroscopy and photo-capacitance study,
Phys. Status Solidi B 248, 1949 (2011)
DOI: 10.1002/pssb.201046634

Z. Zhang, H. v. Wenckstern, M. Schmidt, and M. Grundmann,
Wavelength selective metal-semiconductor-metal photodetectors based on (Mg,Zn)O-heterostructures,
Appl. Phys. Lett. 99 083502 (2011)
DOI: 10.1063/1.3628338

A. Lajn, M. Schmidt, H. v. Wenckstern,and M. Grundmann,
Transparent rectifying contacts for visible-blind ultraviolet photo diodes based on ZnO,
J. Electr. Mat. 40, 473 (2011)
DOI: 10.1007/s11664-010-1395-x

M. Ellguth, M. Schmidt, H. v. Wenckstern, R. Pickenhain, and M. Grundmann,
Characterization of point defects in ZnO thin films by optical deep level transient spectroscopy,
Phys. Status Solidi B 248, 941 (2011)
DOI: 10.1002/pssb.201046244

H. v. Wenckstern, K. Brachwitz, M. Schmidt, C.P. Dietrich, M. Ellguth, M. Stölzel, M. Lorenz and M. Grundmann,
The E3 defect in MgZnO,
J. Electr. Mat. 39, 584 (2010)
DOI: 10.1007/s11664-009-0967-0

J. Chai, R.J. Mendelsberg, R.J. Reeves, J. Kennedy, H. v. Wenckstern, M. Schmidt, M. Grundmann, K. Doyle, T.H. Myers, and S.M. Durbin,
Identification of a Deep Acceptor Level in ZnO due to Silver Doping,
J. Electr. Mat. 39, 577 (2010)
DOI: 10.1007/s11664-009-1025-7

M. Schmidt, M. Ellguth, F. Schmidt, T. Lüder, H. v. Wenckstern, R. Pickenhain, M. Grundmann, G. Brauer, and W. Skorupa,
Defects in a nitrogen-implanted ZnO thin film,
Phys. Status Solidi B 247, 1220 (2010)
DOI: 10.1002/pssb.200945534

M. Schmidt, M. Ellguth, C. Czekalla, H. v. Wenckstern, R. Pickenhain, M. Grundmann, G. Brauer, W. Skorupa, M. Helm, Q. Gu, and F.C.C. Ling,
Defects in zinc-implanted ZnO thin films,
J. Vac. Sci. Technol., B 27 1597, (2009)
DOI: 10.1116/1.3086659

M. Schmidt, R. Pickenhain, and M. Grundmann,
Exact solutions for the capacitance of space charge regions at semiconductor interfaces,
Solid-State Electron. 51, 1002 (2007)
DOI: 10.1016/j.sse.2007.04.004

Qualifikationsarbeiten


Dissertationsschrift (Universität Leipzig, 2012, Grad: "Dr. rer. nat"):

Space-Charge Spectroscopy applied to Defect Studies in Ion-Implanted Zinc Oxide Thin Films
(Raumladungszonenspektroskopiestudien an Kristalldefekten in ionenimplantierten Zinkoxyd Dünnfilmen)


Diplomarbeit (Universität Leipzig, 2006, Grad: "Diplom Physiker"):

Theoretische Untersuchungen zu Raumladungszonen an Halbleitergrenzflächen