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Details zur Publikation

Referenztyp Tagungsbeiträge
DOI / URL
Titel (primär) Characterization of superhard CNx films by Raman spectroscopy
Titel (sekundär) Proceedings XVI International Conference on Raman Spectroscopy
Autor Salzer, R.; Sümmchen, L.; Roland, U.; Kolitsch, A.;
Erscheinungsjahr 1998
Department SAN;
Sprache englisch;
ID 8966
dauerhafte UFZ-Verlinkung https://www.ufz.de/index.php?en=20939&ufzPublicationIdentifier=8966
Salzer, R., Sümmchen, L., Roland, U., Kolitsch, A. (1998):
Characterization of superhard CNx films by Raman spectroscopy
Proceedings XVI International Conference on Raman Spectroscopy
Wiley, Chichester, p. 504 - 505