Details zur Publikation |
| Kategorie | Textpublikation |
| Referenztyp | Tagungsbeiträge |
| Titel (primär) | Characterization of superhard CNx films by Raman spectroscopy |
| Titel (sekundär) | Proceedings XVI International Conference on Raman Spectroscopy |
| Autor | Salzer, R.; Sümmchen, L.; Roland, U.; Kolitsch, A. |
| Erscheinungsjahr | 1998 |
| Department | SAN |
| Seite von | 504 |
| Seite bis | 505 |
| Sprache | englisch |
| dauerhafte UFZ-Verlinkung | https://www.ufz.de/index.php?en=20939&ufzPublicationIdentifier=8966 |
| Salzer, R., Sümmchen, L., Roland, U., Kolitsch, A. (1998): Characterization of superhard CNx films by Raman spectroscopy Proceedings XVI International Conference on Raman Spectroscopy Wiley, Chichester, 504 - 505 |
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