Details zur Publikation |
Kategorie | Textpublikation |
Referenztyp | Tagungsbeiträge |
Titel (primär) | Characterization of superhard CNx films by Raman spectroscopy |
Titel (sekundär) | Proceedings XVI International Conference on Raman Spectroscopy |
Autor | Salzer, R.; Sümmchen, L.; Roland, U.; Kolitsch, A. |
Erscheinungsjahr | 1998 |
Department | SAN |
Seite von | 504 |
Seite bis | 505 |
Sprache | englisch |
dauerhafte UFZ-Verlinkung | https://www.ufz.de/index.php?en=20939&ufzPublicationIdentifier=8966 |
Salzer, R., Sümmchen, L., Roland, U., Kolitsch, A. (1998): Characterization of superhard CNx films by Raman spectroscopy Proceedings XVI International Conference on Raman Spectroscopy Wiley, Chichester, 504 - 505 |